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商管‧財經
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國內高階半導體檢測設備市場切入之機會研究
作者
:
陳慧娟 (著)
出版社
:
財團法人金屬工業研究發展中心
出版日期
:
2016
閱讀格式
:
PDF
書籍分類
:
商管‧財經
;
理工農醫
;
學術書
學科分類
:
應用科學類
ISBN
:
9789865662585
朗讀功能
:
因版權限制,本書不支援朗讀功能
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目錄
第一章 緒論
第一節 研究動機與目的
第二節 研究範圍
第三節 研究方法與架構
第四節 研究時程與限制
第二章 全球高階半導體檢測設備市場動態與趨勢
第一節 半導體前段高階晶圓檢測設備
第二節 半導體後段高階封裝檢測設備
第三章 台灣高階半導體檢測設備市場動向與展望
第一節 半導體前段高階檢測設備
第二節 半導體後段高階檢測設備
第四章 全球高階半導體檢測設備技術與未來發展策略
第一節 全球半導體檢測設備關鍵技術剖析
第二節 全球半導體檢測設備標竿廠商技術與發展策略
第五章 國內切入高階半導體檢測設備產業之商機探究
第一節 國內外高階半導體檢測設備產業之技術缺口
第二節 國內高階半導體檢測設備產業未來發展商機
第三節 小結
第六章 結論與建議
第一節 結論
第二節 策略建議
參考資料
詳細資訊
國際計量
出版地
:
臺灣
語言
:
繁體中文
國內高階半導體檢測設備市場切入之機會研究
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